Пробкарты функционального контроля
Стоимость ₽ по запросу
- Кантилеверные пробкарты
- Вертикальные пробкарты с «кобра» зондами и с возможностью подключения сменных зондовых головок для различных тестируемых устройств
- Вертикальные MEMS пробкарты
- Пробкарты с микропружинными контактами с минимальным повреждением контактных площадок
Related products
-
Решения для испытаний полупроводникового оборудования
Различные типы контактов и виды монтажа контактных устройств
Стоимость ₽ по запросу Read more -
Решения для испытаний полупроводникового оборудования
Испытательная оснастка
Стоимость ₽ по запросу Read more -
Решения для испытаний полупроводникового оборудования
Параметрические пробкарты
Стоимость ₽ по запросу Read more